寺田 涼 (Ryo Terada)

趣味：ゲーム，読書

研究テーマ
・多重回路によるソフトエラー耐性の向上

経歴
2010年4月　静岡県立磐田南高等学校 入学
2013年3月　静岡県立磐田南高等学校 卒業
2013年4月　国立大学法人静岡大学工学部電気電子工学科 入学
2017年3月　国立大学法人静岡大学工学部電気電子工学科 卒業

業績

表彰

1. （世界一位） Champion in FPGA Design Contest 2017,
   T. Fujimori, Y. Ito, R. Terada, S. Fujisaki, T. Hatamochi, H. Shinba, M. Watanabe,
   International Workshop on Highly Efficient Accelerators and Reconfigurable Technologies, July, 2017.
2. （世界一位） First Place in FPGA Design Competition 2016,
   T. Fujimori, Y. Ito, R. Terada, S. Fujisaki, T. Hatamochi, H. Shinba, M. Watanabe,
   International Conference on Field-Programmable Technology, Dec. 2016.

学術論文

国際学会

国内学会

1. 寺田涼，渡邊実，「ハードウェアアクセラレータの放射線耐性」，
   電子情報通信学会総合大会，3月，2017．

所属学会